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Hauptgruppen der WP - Verfahren
| - mechanische | -> statische (ruhende, stetig ansteigende Bel. ) -> Zugversuch |
| -> dynamische (schlagartige,wechselnde " ) ->Kerbschlagbiegev. |
| keine Berechnungskennwerte; | |
| -technologische | Prüfung des Verhaltens bei Fertigung, Funktion (rissfrei) |
| -> Hin - und Herbiegeversuch, Tiefziehversuch |
| Oberflächenrisse -> Penetrirverfahren; magnetische Prüfverfahren | |
| -zerstörungsfreie | Ultraschallà Durchschallungs-, Impuls-Echo-Verfahren |
| Durchstrahlungsverfahren ->Röntgen-, Gamma-Durchstrahlung |
| -chem.,phys.,techn. | -> 5 - Analyse ( C, Mn, Si, P, S im Stahl) |
| -> Klangprobe |
| -metallographische | -> makroskopische Untersuchung |
| -> mikroskopische Untersuchung . |
| Die Ergebnisse sind
mit bloßem Auge sichtbar oder sind nur wenig vergrößert.
Sie liefern: - Anhaltspunkte über Gefügeaufbau - Aufschluß über Art und Verteilung bestimmter Gefügebestandteile Durch Ätz- oder Abdruckverfahren (chemische Reaktionen an der Oberfläche) Sichtbarmachen von: - Wärmebehandlungszonen, Schweißnähten, Schichtbildungen - Primärkristallisation in Gußteilen; Verteilung von Seigerungen - Rekristallisationsgefüge; Faserverlauf verformter Teile
nach Adler, Frey Oberhoffer, Baumannabdruck (Bargel, Seite 132) |
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Ätzung
nach Adler
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Ätzung:
10%ige alk. Salpetersäure
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| Beispiel: Einsatz
der Metallmikroskopie
Gerät: Auflichtmikroskop
Vergrößerung
...1000 : 1 (durch Hilfsmittel auch ) |
Auflichtmikroskop |
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schematische
Darstellung
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| Erforderlich ist die Herstellung von Schliffproben | |
| Probe (ca. 1 cm³) | sägen - dabei reichlich kühlen |
| naßschleifen - grob bis fein; 90°Drehung | |
| polieren | |
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mechanisch
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elektrolytisch
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mit Tonerde (Aluminiumoxid) oder Diamantsuspension auf Polier(filz)tüchern |
- Anlegen einer
Spannung |
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![]() Naßschleif- und Poliergerät |
Einebnen
durch elektrolyt. Polieren
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| - Oberfläche
ungleichmäßig - dünne Schichten ->Stromstärke u. Ablösungsgeschwindigkeit - Glättung der Oberfläche |
2.2. Vorbereitung zur Lichtmikroskopie (ätzen)
| Ätzen:
Um ein Gefüge
sichtbar zu machen, muß das zu untersuchende Material |
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Korngrenzen-
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Kornflächenätzen
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Kupfer-Zink-Legierung
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Kupfer-Zinn-Legierung
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| Bekannte Mikroätzmittel: Nital (verdünnte Salpetersäure), Königswasser (Salzsäure u. Salpetersäure) in Glyzerin, V2A-Beize, Villela-Ätzmittel, Flußsäure usw. Lit.: Bargel/Schulze S.132, Seidel, S. 354 |
2. 3. weitere lichtmikroskopische Untersuchungen (Korngrößenbestimmung)
| Korngrößenbestimmung zur Ermittlung der Festigkeit des Werkstoffes Die Korngrössenbestimmung
kann durch Richtreihen, Berechnung mittels Kreis- (mittlere Korngrösse)
- bzw. Linienverfahren (mittlerer Korndurchmesser) oder Bildauswertung
mit entsprechenden Computerprogrammen durchgeführt werden. Hat
man die Kornnummer ermittelt,kann man sie entsprechend zuordnen, |
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Linienverfahren
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Kreisverfahren
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l
x p x 10³
KDm = n x m |
Ak
x 10 Am = (0.67 x n + z) M² |

| Die Mikrohärte
ist eine fast zerstörungsfreie Prüfmethode zur Be-stimmung der
Oberflächenhärte und findet bei 400 bis 500-facher Vergrösserung
statt. Sie wird hauptsächlich bei metallischen, aber auch bei polymeren Werkstoffen, Hölzern, Lacken, Beschichtungen usw. angewandt. Die zu prüfenden Materialien müssen hochpolierte (bei metallischen Werkstoffen) bzw. planflächige riefenfreie Oberflächen besitzen. Die Mikrohärteprüfung hat den Vorteil, dass einzelne Gefügekörner, dünne Schichten und interferenzmikroskopisch differenzierte Polymerbereiche erfasst werden können. Eine Methode der Mikrohärteprüfung ist die Vickershärteprüfung. Hier wird der Eindruck
durch eine Diamantpyramide erzeugt und optisch |
2. 5. Beispiel einer lichtmikroskopischen Untersuchung
| Metallographische
Unters. an 4 Proben eines Stahles C 45
Die Gefügebilder
zeigen die Wirkung der Abschreckmedien auf das Gefüge. Die Proben
eines Stahles C 45 wurden 30 - 50° C über der |
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| Funktionsprinzip: Im Rasterelektronenmikroskop wird unter Vakuum die zu untersuchende Probe mit einem etwa 5x10 nm Durchmesser gebündelten Elektronenstrahl zeilenförmig abgerastert. Bei der Wechselwirkung werden aus den oberflächennahen Bereichen des Probenmaterials Signale emittiert, die mit geeigneten Detektoren aufgefangen werden. Die Emissionsrate des jeweiligen Signals wird elektronisch verstärkt und als visuell zu betrachtendes Bildsignal auf einem Bildschirm dargestellt. |

| Abbildunsmöglichkeit: Das REM bietet bei hoher Tiefenschärfe und Auflösung Abbildungen mit Vergrößerungen von 10 bis zu max. 300.000-fach . Die Wellenlänge des Elektronenstrahls ist um ca. fünf Größenordnungen geringer als die des sichtbaren Lichtes, die Apertur um drei Größenordnungen, d.h.ein Gewinn der Auflösung um mind. 2 Größenordnungen. Eine gezielte Untersuchung bestimmter Probenbereiche unter Nutzung von Röntgensignalen kann zur genauen Stoff- bzw. Elementeanalyse dienen. |
| Ein Rasterelektronenmikroskop befindet sich im Bereich Physikalische Technik, Haus 1 und wird von Herrn Prof. Dr. Rolle und Frau Huget betreut. Dort erhalten Sie auch weitere Auskünfte über die Rasterelektronenmikroskopie. |
| Funktionsprinzip: Die untere Abb. stellt das eigentliche Funktionsprinzip dar. Ein Laserstrahl wird auf die Spitze des flexiblen Cantilevers fokussiert und auf eine zweigeteilte Fotodiode gespiegelt. Die feine, pyramidenförmige Tastspitze befindet sich an einem Hebelarm mit extrem kleiner Federkonstante und rastert die Probenoberfläche punktförmig ab. Die durch das Oberflächenprofil verursachte Verbiegung des Cantilevers wird optisch nachgewiesen. Dies erfolgt, indem die Positionsänderung des Laserstrahls von der Fotodiode durch auftretende Spannungsdifferenzen registriert wird. Das geometrische Oberflächenprofil wird mittels Sensor gemessen. |

| Abbildungsmmöglichkeit: Aus den Meßdaten kann ein dreidimensionales topographisches Oberflächenprofil der Probe mittels Software erstellt werden. Die max. Rauhtiefe der zu untersuchenden Probe muß der max. Auslenkung der Spitze angepaßt werden, da sonst keine Abbildung möglich ist (ca. 1 nm). Die Software bietet
Schnittkurven durch ein frei wählbares Oberflächenprofil an,
wobei hier genaue Meßlinien festgelegt werden können. Dies
kann beim Ausmessen von |
| Ein Rasterkraftmikroskop befindet sich im Bereich Physikalische Technik, Haus 1 und wird von Frau Prof. Dr. Richter und Herrn Dipl.Krist. Ries betreut. Dort erhalten Sie auch weitere Auskünfte über die Rasterkraftmikroskopie. |